1.什么是光谱分类和原子光谱分析方法？

    根据强度随波长或频率的分布轮廓，光谱可以分为线性光谱.带状光谱和连续光谱；根据能量传递方式可分为吸收光谱.发射光谱.荧光光谱和拉曼光谱；根据电磁辐射的本质，光谱可以分为：原子光谱.分子光谱.X射线能谱.γ射线能谱等。

    原子由核和核外电子组成。核外电子处于不同的轨道上，即不同的能级。能量变化是量子化的。当外部电子发生跳跃时，发射或吸收的光谱就是原子光谱。原子光谱属于线性光谱，是元素的内在特征。

    原子光谱分析技术包括原子发射光谱（AES）.原子吸收光谱（AAS）原子荧光光谱（AFS）还有X射线荧光光谱（XRF）分析方法。

2.什么是AES？常见的AES有哪些仪器？

    AES的全称是“AtomicEmissionSpectrometry”即原子发射光谱的原理是，当原子核外的电子受到外部能量的刺激，转移到刺激状态，然后从高能量状态返回到低能量状态或基本状态时，以辐射的形式释放能量。

    基于AES技术仪器包括:火花/电弧源原子发射光谱仪（AES）.电感耦合等离子体原子发射光谱仪（ICP-AES或ICP-OES）.辉光放电原子发射光谱仪（GD-OES）等。通常AES指火花源原子发射光谱仪，又称直读光谱仪。

3.光谱仪的定性和定量计算原理是什么？

    光谱仪是一种仪器，它可以按波长顺序发射各种波长的多色光，并通过探测器测量不同波长的光谱强度。使用光谱仪获得的元素特征波长信息可以定性判断元素是否包含在样品中；元素含量可以通过元素特征谱线的强度进行定量计算，即利用一系列标准样品制定工作曲线，比较待测试样品和工作曲线坐标上的强度，得到待测试样品的精确含量。

4.直读光谱仪的误差来源是什么？

    1)系统误差也称为可测量误差，通常包括仪器本身的波动；样品的给定值与实际值之间存在一定的偏差（标准样品的元素固定方法可能与实际检测方法不一致，因此检测结果在方法上会有差异；同一方法的检测结果也有一定的波动）；待测样品与系列标准样品之间存在成分差异，可能导致蒸发.解离过程中的错误，如背景强度和基体蒸发的差异等。

    2)偶然误差是一种不规则的误差，如不均匀的样品；检测过程中周围的温度和湿度.电源电压的变化；样品本身的成分差异等。

    3）过错误差是指分析人员在工作中的操作失误，可以避免的结果。如果样品制备不准确，样品预处理不符合要求，样品控制与待测试样品之间存在样品控制偏差，选择错误的分析程序等。

5.直读光谱仪有哪些类型？

    直读光谱仪可以有不同的划分方法。

    根据光栅的不同环境，可分为真空直读光谱仪和非真空直读光谱仪，其中非真空直读光谱仪可分为空气直读光谱仪（无法测量真空紫外波段）C.P.S.As等元素含量)和充惰性气体型直读光谱仪(可测量真空紫外线元素)；

根据仪器的不同结构，可分为多通道直读光谱仪和全谱直读光谱仪。前者主要使用光电倍增管作为探测器，后者主要使用阵列探测器（例如CCD）。

    随着CCD随着技术的不断发展，直读光谱仪开始小型化.全光谱发展。小型化仪器功耗小，占用空间小，维护方便；全光谱直读光谱仪可获得全波段内的光谱，满足多基体分析的要求。光谱线选择灵活，可有效扣除光谱干扰，分析更加准确。然而，多通道直读光谱仪只能检测有限数量的光谱，这是很难做到的。